JB/T 9942-1999 光栅角位移传感器

抗干扰性能试验

B1抗干扰性能试验I
将角位移传感器与抗干扰性能合格的数显表连接成系统后试验。
抗干扰性能试验建议按如下方法进行。

B 1.1在与数显表同一电网上，人为的制造下列干扰：

a)用40A交流接触器，每隔5 min左右启停一次5～10 kW电动机，试验20次；
b)距离数显表2m外，使用电焊机焊接20 min;
c)开关电风扇，插拔电烙铁或使用直径6 mm交直流手电钻开闭10次；
d)用75A三相交流接触器连续通断30次；
e)距离数显表Sm外，用5 kW以下的任一种可控硅电源连续工作（仅对脉冲当量为10 um的数显表做此试验）。

B2抗干扰性能试验II
B 2.1  电源线低频重复干扰传导敏感度试验

B 2.1.1  低频重复干扰源原理图见图B1。

B 2.1.2  低频重复干扰波波形图：

a)低频重复干扰波以每秒100个周波群的重复频率叠加在电源线交流电压的波峰、波谷上；
b)每一周波群由频率100 kHz的衰减余弦振荡波组成，其包络达到1.5周波后，衰减到第一个半波峰值的一半；
c)低频重复干扰波按第一个半波峰值电压大小分为30级，每级表示100 V电压；
d)低频重复干扰源的输出阻抗为150Ω;
e)每个重复干扰波的电压波形图如图B2。

B 2.1.3试验接线图和试验步骤
数显系统应在额定电压变化+10%～-15%条件下进行抗干扰性能试验。
差模干扰按图B3接线。
差模试验按图B4接线。