将外径千分尺紧固在夹具上,在两测量面间放入尺寸系列为2.5;5.1;7.7;10.3;12.9;15.0;17.6;20.2;22.8和25mm的一组1级精度的
量块进行检验。得出千分尺标尺指示值与上述10个位置上两测量面间实际距离的10个差值,以其中最大差值的绝对值作为
千分尺的示值误差。
测量面的平行度及平面度采用光学平晶进行检验。光学平晶与丝杆测量面或测砧测量面贴合后,由于测量面的不平度,使平晶与测量面之间存在气隙,从而产生干涉带或干涉环。在测量面的垂直方向,每条干涉带或干涉环所代表的平面度误差为0.3μm。
(丝杆测量面干涉条纹数:M=2)
测量面的平行度误差:
测量范围上限至100mm的外径千分尺两测量面的平行度采用丝杆螺距的1/3或1/4的光学平行平晶来进行检验;依次将光学平行平晶放入两测量面之间,转动测力装置,施加5-10N的力,使光学平行平晶与测量面间相接触,并轻轻转动平晶,使两测量面出现的干涉环或干涉带数目减至最少。
测量范围大于100mm的外径千分尺测量面的平行度可用自准直仪进行检验。
在距测量面边缘0.4mm范围内的平行度忽略不计。
(测砧测量面干涉条纹数:N=2;千分尺两测量面总干涉条纹数:K=M+N=2+2=4;千分尺两测量面的平行度:4×0.3=1.2μm)
测量面的平面度误差:
采用二级光学平晶检验,应调整光学平晶使测量面上的干涉带或干涉环尽可能减少,或使其产生封闭的干涉环。
测量面不应出现两条以上的相同颜色的干涉环或干涉带(测量面的平面度:<0.6μm)。
在距测量面边缘0.4mm范围内的平行度忽略不计。
(测砧测量面干涉条纹数:N=1;测砧测量面的平面度:1×0.3=0.3μm)
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