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FS-70 378 系列 — 半导体检测用显微镜系列

品 牌:三丰/Mitutoyo

产品描述

特点
此光学系统最初是为畅销的 FS60 型 (后升级为 FS70 型) 而开发的。它是作为测量检测半导体器件的显微镜的理想选择。

FS70L 支持3 种YAG 激光波长(1064nm,532nm, 355nm),FS70L4 支持2 种波长(532nm, 266nm),可在半导体和液晶基板中使用薄膜激光切割技术。这就扩大了激光的使用范围。然而,对用于显微镜的激光系统的性能和安全性,三丰公司不负责任。我们推荐在选购激光发射器时应仔细检查。

FS70Z 的标准功能有:亮视场,微分干涉对比 (DIC) 和偏振观测。FS70L 和FS70L4不支持 DIC。

使用内置式转换器使得长工作距离物镜的操作很简单。

极易操作的设计:FS70 采用正像光学系统 (视场中的像与样品方向相同) 并用橡胶把手加大微调手轮。

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* 镜体的载重不包括物镜镜头和目镜的重量

技术参数
对焦
   • 方法:       有同心粗调和微调手轮(左和右)
   • 测量范围: 50mm
                    微调0.1mm/rev. 同心 ,
                    粗调3.8mm/rev.
三目镜筒图像: 正像
瞳距:             西登托夫型
调节范围:       51 - 76mm
视场数:          24
俯角:             0º - 20º (仅适于 -TH, -THS 型号)
照明系统:       亮视场反射照明(科勒照明、带孔径光阑)
光源:            12V100W 光纤、无极亮度调节,光导长度1.5m、功耗 150W
物镜 (选件):  M Plan Apo, M Plan Apo SL, G Plan Apo

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