Surftest (表面粗糙度测量仪) SJ-500P/SV-2100M4 (PC 型)系列
品 牌：三丰/Mitutoyo
产品描述
178 系列 — 带有PC ( 个人电脑)
高精度、高性能表面粗糙度测试仪充分利用高级分析软件优势。SJ-500P 是独立单机，而SV-2100M4 则是一种台式设备，含手动精密立柱。
特点
控制部件中的内置操纵杆使得定位快捷简便。测量小孔内侧时可使用手动旋钮对细小测针的位置进行微调。
表面粗糙度测量条件的设置简单易行。利用简单的输入功能可按ISO/JIS 粗糙度标准计算绘图指令符号。 复杂的测量条件设置很容易输入，只要由表面粗糙度菜单中选择绘图指令符号即可。
点击 订货号或厂家货号了解Surftest (表面粗糙度测量仪) SJ-500P/SV-2100M4 (PC 型)系列下各规格产品更多参数
| 订货号 | 厂家货号 | 型号 | 市场价 | 促销价 | 购买 |
| 37929 | 178-530-01 | SJ-500P | - | - | 询价 |
| 37930 | 178-530-02 | SJ-500P | - | - | 询价 |
| 37931 | 178-634-01 | SV-2100M4 | - | - | 询价 |
| 37932 | 178-634-02 | SV-2100M4 | - | - | 询价 |
技术参数: SJ-500P
X1 轴 (驱动部)
测量范围: 50mm
分辨率: 0.05μm
长度基准: 线性编码器
驱动速度: 0 - 20mm/s
测量速度: 0.02 - 5mm/s
移动方向: 向后
直线度: 0.2μm / 50mm
定位: ±1.5º (倾角, 有DAT 功能)30mm (向上／向下)
检出器
范围／分辨率: 800μm / 0.01μm, 80μm / 0.001μm,8μm / 0.0001μm
检测方法: 无轨／有轨测量
测力: 参见性能参数表
测针针尖: 参见性能参数表
导头曲率半径: 40mm
类型: 差动电感式
驱动装置的控制: PC 操作
技术参数: SV-2100 M4 (PC 型)
X1 轴 (驱动部)
测量范围: 100mm
分辨率: 0.05μm
长度基准: 线性编码器
驱动速度: 0 - 40mm/s
测量速度: 0.02 - 5mm/s
移动方向: 向后
直线度: 0.15μm / 100mm
Z2 轴 (立柱)
类型: 手动操作
垂直移动: 350mm
检出器
范围／分辨率: 800μm / 0.01μm, 80μm / 0.001μm,8μm / 0.0001μm
检测方法: 无轨／有轨测量
测力: 参见性能参数表
测针针尖: 参见性能参数表
类型: 差动电感式
驱动装置的控制: PC 操作
评价能力: SURFPAK-SV
评价轮廓:
P (原始轮廓), R (表面粗糙度轮廓), WC, WCA, WE, WEA,DIN4776 轮廓, 包络残余线, 粗糙度motif, 波形motif
评价参数:
Ra, Rq, Rz, Ry, Rz(JIS), Ry(DIN), Rc, Rp, Rpmax, Rpi, Rv,Rvmax, Rvi, Rt, Rti, R3z, R3zi, R3y, S, Pc (Ppi), Sm, HSC, mr,dc, plateau ratio, mrd, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Da, Dq, la,lq, Sk, Ku, Lo, Lr, A1, A2
粗糙度motif 参数: Rx, R, AR, SR, SAR, NR, NCRX, CPM
波形motif 参数: Wte, Wx, W, AW SW, SAW, NW
分析图表:
ADC, BAC1, BAC2, 功率谱图, 自相关图, Walsh 功率谱图, Walsh 自相关图, 倾斜分布图, 局部峰值分布图,参数分布图
滤波类型 2CR-75%, 2CR-50%, 2CR-75% (相位校正),2CR-50% (相位校正), 高斯-50%
截止波长*:
lc: 0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm
fl: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm
fh: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm
取样长度*:
0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm,25mm
数据补偿功能:
倾斜补偿，R 平面(曲面) 补偿，椭圆补偿，抛物线补偿，双曲线补偿，二次曲线自动补偿，多项式补偿，多项式自动补偿
* 可在0.025 至最大移动长度间指定任意长度
