JB/T 8371-1996 容栅线位移测量系统 数显单元0.01mm
5.2外观要求
数显单元的外表面应平整，清洁；显示器应无划痕、漏液、裂纹等现象，功能符号清晰明确；副栅应平整，无表面缺陷，无凹坑、划痕、锈蚀，触点应灵活可靠。
5.3副栅平面度
副栅平面的平面度：不大于0.02mm。
5.4显示
扭曲向列型液晶显示器，可显示5或6位数字及“一”、“，”等符号。液晶显示器所有显示笔划应完整、清晰，数字高度不小于4mm，在数显单元外壳各个方向施加10N压力时，所显示的字符都应完整无畸变。
5.5基本功能
5.5.1具备显示屏显示全零，使测量零点可任意设定的功能。
5.5.2具备当供电电压低于告警电压时，数显单元的液晶显示器出现周期性闪烁显示，提醒用户更新电池的功能。
5.5.3根据用户需要，可以具备其他特定功能。
5.6示值误差
数显单元的示值误差应不大于0.02mm。
5.7重复性
数显单元的重复性应不大于0.01mm。
5.8工作电流
数显单元的工作电流不大于22uA。
5.9极限移动速度
极限移动速度不小于1.5m/s。
5.10示值漂移
在th内，示值允许变化一个字。
5.11触点寿命
数显单元的触点寿命不少于10000次。
6试验方法
6.1样品预处理
6.1.1 预处理条件
温度：20～25℃；
相对湿度：40%～55%RH;
大气压强：86～106kPa。
6.1.2预处理方法
将无包装的样品在上述条件下搁置4h。给样品加电，样品应符合5.2～5.11的规定。
6.2数显单元的温度交变试验按GB 2423.22的Nb。
6.2.1试验循环见图2。
6.2.2在标准大气条件下，恢复时间为16h。
6.2.3最后检测按附录A（标准的附录）的规定进行。
6.3数显单元的恒定湿热试验按GB 2423.3。
6.3.1试验持续时间为48h。
6.3.2在条件试验中不进行电性能测试。
6.3.3最后检测按附录A的规定进行。
6.4数显单元的振动试验按GB 2423.10。
6.4.1 频率范围：5～70～5Hz。
6.4.2振幅:10mm。
6.4.3持续时间：20min。
6.4.4最后检测按附录A的规定进行。
6.5 数显单元的冲击试验按GB 2423.5。
6.5.1脉冲波形为半正弦波。
6.5.2峰值加速度为15×9.8m/s^2，脉冲持续时间为11ms。
6.5.3冲击方向为X、Y两个互相垂直轴线的方向，冲击次数每个方向为三次。
6.5.4最后检测按附录A的规定进行。
7检验规则
7.1产品按附录A逐件逐项检验合格方可出厂。
7.2定型试验：产品至少随机抽样50件，按第5章、第6章及附录A规定要求进行试验和检验，应符合要求。
8标志和包装
8.1 数显单元上应标志：
a)制造厂厂名或注册商标；
b)产品序号。
8,2数显单元包装箱上应标志：
a)制造厂厂名或注册商标；
b)产品名称；
c)示值范围；
d)产品数量。
8.3数显单元应加防静电包装，并妥善置于包装箱内，保证在运输过程中不得损坏产品。
8.4数显单元应有产品合格证，该证应标有标准号、产品序号、生产日期。
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