JB/T 8371-1996 容栅线位移测量系统用数显单元的检验方法

发布时间:2012-05-19 作者:可立德商城 点击: ...

A1标准条件
温度:25±2℃;
湿度:50%;
工作电压:1.55V。


A2检验装置
准确度为0.003mm、装有容栅节距为5.08mm的专用检验装置。


A3外观要求
目测检查应符合5.2的规定。


A4副栅平面度
用1级刀口尺和塞尺检查应符合5.3的规定。


A5显示
数显单元加工作电压后,目测检查应符合5.4的规定


A6基本功能
数显单元加工作电压后,按动功能按键,目测检查显示应符合5.5的规定。


A7示值误差
在标准条件下,将待测数显单元固定在专用检验装置上,数显单元的副栅与主栅间距为0.15mm。在一个容栅节距范围内移动数显单元,比较数显单元显示数值与专用检验装置显示的约定距离值的差值,连接各点作成曲线,曲线上最高点与最低点在纵坐标上的差值,应符合5.6的规定。


A8重复性
在标准条件下,将数显单元放置专用检验装置上同方向10次通过同一测量点,检查显示数值变化应符合5.7的规定。


A9工作电流
在标准条件下,用专用工作电流检验装置检查,当显示器显示全零时,工作电流测试仪的读数即为数显单元的工作电流,应符合5.8的规定。测试原理见图A1。


A10极限移动速度
用频率计测量系统工作频率f,再通过公式Vmax=0.009921875f将工作频率换算成数显单元的最大移动速度,应符合5.9的规定。


A11示值漂移
在标准条件下,保持数显单元无位移,无振动,检查显示数值的变化应符合5.10的规定。


A12触点寿命
将数显单元置于寿命试验台上,用2N作用力使触点动作达10000次以上,应能正常工作。


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