1范围
本标准规定了磁栅线位移测量系统(以下简称测量系统)的型式、基本参数、技术要求、标志、包装及贮存。
本标准适用于分度值由0.5—100 um的线型磁栅线位移测量系统和带型磁栅线位移测量系统。
2引用标准
下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。
GB/T 15464-1995 仪器仪表 包装通用技术条件
3定义
本标准采用下列定义。
3.1磁栅线位移测量系统
利用磁头相对于磁栅(磁尺)线位移其磁通量变化而形成电感信号变化的原理,由磁栅线位移传感器感受位移量,并用磁栅数显表显示其值的长度测量系统。
4型式与基本参数
4.1型式
测量系统有两种型式:
a)线型磁栅测量系统;
b)带型磁栅测量系统。
4.2基本参数
4.2.1磁栅尺的录磁节距为0.2mm。
4.2.2磁栅尺录磁的有效长度L见表1。
4.2.3测量系统数显表的分辨率见表2。
5技术要求
5.1测量系统的工作环境和工作条件
5.1.1测量系统工作环境的温度范围为0~45℃,当工作环境温度在15~25℃内时,相对湿度应不大于90%。
5.1.2测量系统使用的电源频率为50Hz,额定电压为220V,电压波动范围为额定电压的85%~110%。
5.1.3工作环境中应无明显的腐蚀性气体和粉尘。
5.1.4磁栅不得直接与强磁场(例如磁性表座)接触。
5.2 外观及相互作用
5.2.1表面不应有锈蚀、碰伤和镀层脱落等缺陷,各种标志、数字应正确、清晰。
5.2.2各紧固部分应牢固可靠,各转动部分应灵活,不应有卡滞和松动现象。
5.3录磁长度
磁栅尺的录磁长度应不小于表3的规定。
5.4准确度
测量系统准确度共分为四个等级,每个等级的误差峰.峰值A按表4的公式计算,准确度用数值A的二分之一冠以“±”号表示。
注:误差峰一峰值A系指测量系统误差曲线上最高点与最低点之差。