Surftest (表面粗糙度测量仪) SJ-400
品 牌:三丰/Mitutoyo
厂家货号:178-958-3*
订 货 号:13273
产品属性
型号 | SJ-402 |
测力 | 0.75mN |
评价范围 | 50mm |
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产品描述
配备有符合最新ISO, DIN, ANSI, 和 JIS 标准的36 种粗糙度评价参数。
一个宽范围、高分辨率的检测器和一个直接驱动元件,提供了在同类产品中更优越的高精度测量。
< 范围/分辨率>
800μm / 0.000125μm (8μm 测量范围)
< 直线度/移动长度>
SJ-401 驱动部: 0.3μm / 25mm
SJ-402 驱动部: 0.5μm / 50mm
无轨检测器和弧形表面补偿功能使它能有效地评价圆柱体表面粗糙度。
特细的阶差,直线度、波度均可用无轨测量功能测出。
测量数据可通过 RS-232C 接口电缆 (选件)由外部PC 输出。
带有粗糙度标准板。
由数字滤波功能可得到全真的表面粗糙度轮廓图。
GO/NG 判断功能。
自动校正功能。
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订货号 | 厂家货号 | 型号 | 测力 | 检测器测力 | 评价范围 | 市场价 | 促销价 | 购买 |
13272 | 178-946-3* | SJ-401 | 4mN | 25mm | - | - | 询价 | |
13271 | 178-956-3* | SJ-401 | 0.75mN | 25mm | - | - | 询价 | |
13274 | 178-956-4DC | SJ-401 | 4mN | 0.75Mn | 25mm | - | - | 询价 |
13273 | 178-958-3* | SJ-402 | 0.75mN | 50mm | - | - | 询价 |
X 轴 (驱动部)
测量范围: 25mm (SJ-401), 50mm (SJ-402)
测量速度: 0.05, 0.1, 0.5, 1.0mm/s
返回速度: 0.5, 1.0, 2.0mm/s
移动方向: 向后
直线度: 0.3μm / 25mm (SJ-401),
0.5μm / 50mm (SJ-402)
定位: ±1.5° (倾角), 10mm (向上/向下)
检测器
范围/分辨率: 800μm / 0.01μm, 80μm / 0.001μm,
8μm / 0.0001μm (使用测头选件时,
最大可达2400μm)
检测方法: 无轨/有轨测量
测力: 4mN 或 0.75mN (低测力型)
测针针尖: 金刚石、90º / 5μmR
(60º / 2μmR: 低测力型)
导头曲率半径: 40mm
检测方法: 差动电感式
电源: 通过 AC 适配器/可充电镍氢电池
电池寿命: 最多可测量600 次 (不带打印)
充电时间: 15 个小时
数据输出 通过RS-232C 端口/ SPC 输出
尺寸(WxDxH)
控制器: 307 x 165 x 94mm
高度- 倾角调整装置: 131 x 63 x 99mm
驱动部: 128 x 36 x 47mm (SJ-401),
155 x 36 x 47mm (SJ-402)
重量
控制器: 大约1.2kg
高度- 倾角调整装置: 大约0.4kg
驱动部: 0.6kg (SJ-401), 0.7kg (SJ-402)
评估轮廓:
P (主轮廓), R (表面粗糙度轮廓), W (滤波波度轮廓),
DIN4776、粗糙度 motif、波形 motif
评估参数:
Ra, Ry, Rz, Rq, Pc, R3z, mr, Rt, Rp, Rv, Sm, S, δc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1,
Mr2, A1, A2, Lo, Ppi, R, AR, Rx, Da, Dq, Ku, HSC, mrd, Sk, W, AW,
Wte, Wx, Vo
分析图表:
支撑曲线(BAC1 / 2)、振幅分布曲线(ADC)
滤波类型 2CR, PC75, 高斯
截止波长 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8mm
取样数: X1, X3, X5, XL
任意长度(XL) : 0.1 - 25mm (0.1 - 50mm: SJ-402),
0.1mm 增量
取样长度 (L) : 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8mm
打印机 热敏打印机
打印宽度 48mm (纸宽: 58mm)
纪录倍率
垂直: 20X - 100,000X、自动
水平: 1X - 1,000X、自动
功能
客户化: 显示/评价参数的选择
数据补偿: R 表面、倾斜补偿
标尺功能:
显示任意两点间的坐标差
数字调整工作台功能:
无轨测量时、协助调水平
移动检测模式
驱动部停止时输入测头移动
统计过程: 最大值、最小值、均值、 标准差、合格率、
直方图
公差判断: 可确定三个参数的上、下极值。
测量条件储存: 5 组测量条件( 控制单元)